产品价格：0.00 品牌：METONE
MET ONE7000系列远程空气颗粒计数仪 特点： 大流量1.0cfm(28.3升/分)和0.1cfm(2.83升/分) 可最小监控0.3μm粒径颗粒，2个标准粒径尺寸通道 应用： 生命科学行业中洁净室空气颗粒监控 性能： 监控粒径0.3μm-10.0μm（在此范围可选通道） 标准通道设置为0.5μm和5.0μm 0.5μm-10.0μm可采用大流量1.0cfm(28.3lpm). 0.3μm-10.0μm,1.0cfm(28.3lpm). 粒径通道 7005 CH1/...

产品价格：0.00 品牌：BECKMANCOULTER贝克曼库尔特
DelsaNano 纳米粒度/Zeta电位分布分析仪 功能：纳米粒度/Zeta电位(颗粒或平板)分布分析仪 分析范围： DelsaNano C 纳米粒度/Zeta电位分布分析仪：0.6nm - 7um(粒度测量范围) 　 　 0.6nm - 30um(Zeta电位测量范围) DelsaNano S 纳米粒度分布分析仪：0.6nm - 7um(粒度测量范围) DelsaNano Z 纳米粒度分布分析仪：0.6nm - 30u...

产品价格：0.00 品牌：BECKMANCOULTER贝克曼库尔特
LS 6500液体闪烁计数仪 LS 6500整合了先进的闪光技术，并能随着仪器应用改进而升级。多通道分析器使仪器的操作更为简单，而测定结果更为准确。 - 有32,768道分析器，为传统仪器的8倍，可以产生高能谱分析效果，分辨率高达每通道0.0625kev - 采用新技术以及对快符合门采取编程的方法加以控制，从而更有利于任何一对由放射物质产生的双光子进入分析器，使其漏计的概率减少到最小 - 用H-Number Plus 淬灭校正方法，利用137Cs外标导源所产生的康普顿谱上的拐点作指标，以在复...

产品价格：0.00 品牌：BECKMANCOULTER贝克曼库尔特
Multisizer 3库尔特粒度分析计数仪 功能 ：颗粒计数及粒度分析 分析范围：0.4-1200µm 应用原理技术：库尔特原理 适用范围：粉末颗粒度、水质分析及细胞计数等 技术特点 ·数字脉冲处理技术DPP ·可测量样品分布和浓度 ·符合ASTM和ISO标准 ·采用库尔特原理 ·微软窗口平台设计 ...

产品价格：0.00 品牌：BECKMANCOULTER贝克曼库尔特
LS 13 320激光粒度分析仪 功能：颗粒粒度分析 分析范围：LS 100Q激光粒度分析仪 0.4 - 1000µm LS 200激光粒度分析仪 0.4 - 2000µm LS 230激光粒度分析仪 0.04 - 2000µm LS 13 320激光粒度分析仪 0.04 - 2000µm 应用原理技术：激光衍射理论 适用范围：粉末颗粒粒度分析、乳液分析等 技...

产品价格：0.00 品牌：BECKMANCOULTER贝克曼库尔特
LS 200激光粒度分析仪 功能：颗粒粒度分析 分析范围：LS100Q激光粒度分析仪 0.4-1000µm LS200激光粒度分析仪 0.4 - 2000µm LS230激光粒度分析仪 0.04 - 2000µm LS13 320激光粒度分析仪 0.04 - 2000µm 应用原理技术：激光衍射理论 适用范围 ：粉末颗粒粒度分析、乳液分析等 技术特...

产品价格：0.00 品牌：BECKMANCOULTER贝克曼库尔特
DelsaNano 纳米粒度/Zeta电位分布分析仪 功能 ：纳米粒度/Zeta电位(颗粒或平板)分布分析仪 分析范围 ： DelsaNano C 纳米粒度/Zeta电位分布分析仪：0.6nm - 7um(粒度测量范围) 　 　 0.6nm - 30um(Zeta电位测量范围) DelsaNano S 纳米粒度分布分析仪 ：0.6nm - 7um(粒度测量范围) DelsaNano Z...

产品价格：0.00 品牌：马尔文
马尔文悬浮液颗粒粒度仪 Sysmex FPIA3000 Sysmex FPIA 3000是一款全自动动态流动颗粒成像仪，可对悬浮液中的颗粒粒形及粒度进行快速、稳定地测量。 针对质量控制实验室多种需求而设计的FPIA 3000，使悬浮液中颗粒粒度及粒形的分析成为一项简单、常规的任务。 所有的样品备制、测量及清洁均可由仪器自行完成。 无与伦比的图像质量与灵活的软件使其成为高效的研发工具。 测量物质从 0.8µm到300µm。 约两分半的时间内即可完成全自动分析以及自我清洁。 独特的鞘流技术，即使...

产品价格：0.00 品牌：马尔文
马尔文Morphologi G3颗粒粒度仪 Morphologi G3针对从0.5微米至几毫米的颗粒粒度及粒形测量提供先进便捷的测量工具。 该仪器可灵活地运用于科研及故障诊断应用，为自动化质量控制分析提供无用户干预的分析结果与确认。 该技术通常与激光衍射技术共同使用，以便更深入地了解产品或工艺状态。 Morphologi G3采用静态图像分析技术测量颗粒粒度及粒形。 全自动化与集成式干法样品制备的特点使其成为昂贵耗时的人工显微测量方法的理想替代品。 自动化SOP控制的无人值守式运行与可重复的...

产品价格：0.00 品牌：马尔文
马尔文Zetasizer APS精度最高的自动化蛋白质粒度测量仪 Zetasizer APS是一种坚固耐用，便于操作的动态光散射自动化板式采样器，可在行业标准型96- 或384孔板中进行自动样品测量。 双温控可使载样板保持在较低温度，从而在测量前对蛋白质进行保存。 Zetasizer APS将20µL的样品从各个孔转移至精密的石英流动池中进行测量。 样品池环境得到了优化，使温度控制与光学清晰度更为精确，从而保证了最准确的测量结果。 这意味着，可使用任何行业标准型一次性或可重复使用型孔板，而不...

产品价格：0.00 品牌：精科
WJL-612型激光粒度仪 采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通...

产品价格：0.00 品牌：精科
WJL-616型激光粒度仪 采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通...

产品价格：0.00 品牌：精科
WJL-626型激光粒度仪 工作原理 采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任...

产品价格：0.00 品牌：精科
WJL-628型激光粒度仪 工作原理 采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任...

产品价格：0.00 品牌：精科
WJL-622型激光粒度仪 工作原理 采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做...