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电子天平ME204 /02
品牌：METTLER TOLEDO 梅特勒
梅特勒普及型LE系列分析天平
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品牌：METTLER TOLEDO 梅特勒SHIMADZU岛津半微量分析天平AUW-D系列
率先在AUW-D系列半微量天平中使用新一代传感器Unibloc
全自动内校：PSC和Clock-CAL
使用者可以使用两中全自动校准模式。“PSC”是根据当温度发生变化，天平会自动校准，而“Clock-CAL” 是在预定的时间，天平会自动校准。
GLP/GMP/ISO校准记录
通过打印机，校准记录可以自动打印输出。
时间、日期可以打印输出，符合GLP/GMP/ISO要求
Windows直通视窗
测定数据可直接输到Windows应用程序上，无需安装其它软件。
如果您要把“Windows直通视窗”用在“Windows 7”、“Windows VISA ”或者USB输出中，可联系我们当地代理商。
型号规格
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型号 |
量程(g) |
精度(mg) |
重复性（mg） |
线性（mg） |
平均响应时间（S） |
称盘尺寸（mm） |
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AUW220D |
220/82 |
0.1/0.01 |
0.1/0.05 |
0.2/0.1 |
3/15 |
80 |
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AUW120D |
120/42 |
0.1/0.01 |
0.1/0.02 |
0.2/0.03 |
3/12 |
80 |
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