Oxford牛津 CMI 200系列CMI 243膜厚仪

CMI 243是一款专门为测量磁性金属基材上的锌、镍、铬、镉等镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更精确。高端配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它具有X射线荧光的测量精度，同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。CMI 243在设计上更加合理、可靠、实用。

ECP-M探头：锌、镍、铬、镉均可以测量

●准确度：±1%

●测量范围：0.08-1.50mils(2-38μm)

●分辨率：0.01mils (0.1μm)

●适用标准：符合ASTM B244—b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3

●单位：英制和公制单位自动转换

●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，最高值，最低值，最终值

●记忆储存：12,400个数据储存

●接口：RS-232串行端口，波特率可调，可接打印机或计算机

●显示：液晶显示(LCD),字符高度1/2” (1.27cm)

●电池：9V干电池或可充电电池。

●尺寸：57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm)

●重量：9盎司/0.26kg, (包括电池重量在内)